一、物理性能測試項目。

1.內(nèi)部水蒸氣:確定包裝在金屬或陶瓷中的光電器件內(nèi)部氣體中的水蒸氣含量。

2.密封性能:確定光電子器件內(nèi)腔的氣密性。

3.ESD闊值:確定光電器件因靜電放電而損壞和退化的靈敏度和敏感性。

4.可燃性:確定光電器件所用材質(zhì)的可燃性。

5.剪切力:確定光電器件芯片和無源器件安裝在管座或其他基板上的材質(zhì)和工藝的完整性。

6.可焊性:確定需要焊接的光電器件導(dǎo)線(直徑小于30175毫米的導(dǎo)線和截面積相當(dāng)?shù)谋馄綄?dǎo)線)的可焊性。

7.引線鍵合強度:確定光電器件使用的低溫焊接、熱壓焊接、超聲波焊接等技術(shù)的強度

二、機(jī)械完整性測試項目。

1.機(jī)械沖擊:確定光電器件能否適用于需要中等嚴(yán)重沖擊的電子設(shè)備。沖擊可能是裝卸、運輸或現(xiàn)場使用過程中突然受力或劇烈振動造成的。

2.變頻振動:確定在標(biāo)準(zhǔn)頻率范圍內(nèi)振動對光電器件各部件的影響。

3.熱沖擊:確定光電器件在溫度劇變時的抵抗力和功能。

4.插拔耐久性:確定光電器件光纖連接器的插拔，光功率、損耗、反射等參數(shù)能否符合重復(fù)要求。

5.儲存試驗:確定光電器件能否在高低溫下運輸和儲存。

6.溫度循環(huán):確定光電器件承受極高溫度和極低溫度的能力，包括極高溫度和極低溫度交替變化對光電器件的影響。

7.恒濕熱:確定密封和非密封光電器件能否一起承受規(guī)定的溫度和濕度。

8.高溫壽命:確定光電器件的高溫加速老化故障機(jī)理和工作壽命。

三、加速老化試驗。

在光電器件上施加高溫、高濕和一定的驅(qū)動電流，加速老化。根據(jù)測試結(jié)果，判斷光電器件具有的功能和喪失的功能，包括接收和拒絕，并可以調(diào)整光電器件的工作條件，計算可靠性。

1.高溫加速老化:加速老化過程中最基本的環(huán)境應(yīng)力高溫。在實驗過程中，應(yīng)按期監(jiān)測所選參數(shù)，直至退化超過使用壽命。

2.恒溫試驗:恒溫試驗類似于高溫運行試驗，應(yīng)規(guī)定恒溫試驗樣品的數(shù)量和允許失效的數(shù)量。

3.變溫試驗:變溫高溫加速老化試驗是按期逐步升溫(如60℃、85℃、100℃)

4.溫度循環(huán):除了環(huán)境應(yīng)力測試，光電器件還需要進(jìn)行溫度循環(huán)，溫度循環(huán)能加速管道電子器件的老化。加速溫度循環(huán)的目的一般不是引起特定性能參數(shù)的退化，而是為組件中的光路提供長期機(jī)械穩(wěn)定性的附加描述。